Defektoskop Omniscan X3 Phased Array

Druga generacja Defektoskopu Ultradźwiękowego OmniScan X3 zwiększa wydajność badań, daje lepsze możliwości wykonywania badań ręcznych oraz zaawansowanych aplikacji AUT (badania zautomatyzowane), pozwala na szybsze: ustawienia, cykle badań i tworzenie raportów. Dodatkowo zapewnia zgodność z wszystkimi modułami UT (klasycznymi i phased array) - wcześniejszymi, obecnymi oraz przyszłymi. Zaprojektowana dla liderów w przeprowadzaniu nieniszczących badań UT (klasyczne, TOFD i phased array), ta wysokiej klasy, skalowalna platforma umożliwia wykonywanie prawdziwych badań NDT nowej generacji.

OmniScan X3 oferuje dużą szybkość rejestracji danych oraz nowe potężne funkcje oprogramowania dla zwiększenia wydajności badań ręcznych i zmechanizowanych — to wszystko mieści się w przenośnym modułowym urządzeniu.