Przenośny cyfrowy defektoskop ultradźwiękowy stworzony do pracy w każdych warunkach. Duży ekran, intuicyjny interfejs, wiele wbudowanych funkcji i ustawień. System raportowania, zapisu i eksportu wyników z bazą danych.
- Dla początkujących i zaawansowanych użytkowników
- Do badań metali, kompozytów i polimerów, diagnostyki korozji, badania spoin
- Zgodny z PN-EN12668-1
- A-Skan w trybie pełnoekranowym
Najważniejsze Cechy EPOCH 650
Duży Wyświetlacz
Duży ekran o rozdzielczości VGA (640x480) gwarantuje wysokiej jakości obraz. Technologia „transflective” umożliwią prowadzenie analizy w pomieszczeniach, dzięki podświetleniu i na zewnątrz przez dostosowanie ekranu do działania w pełnym słońcu.
Intuicyjny Interfejs
Interfejs w wielu językach (menu po polsku), dostosowany do różnych poziomów zaawansowania. Dzięki przyciskom łatwo i szybko zmienisz wszystkie najważniejsze ustawienia i parametry. Za pomocą przycisków bezpośredniego dostępu dostosujesz lub włączysz:
- wzmocnienie,
- położenie bramek,
- zamrożenie ekranu,
- zapis wyników.
Raporty I Zapis Danych
Baza danych umożliwia zapisywanie ustawień analizy, przechowywanie wyników i wykorzystywanie zapisywanych danych do porównania.
System posiada też wiele wbudowanych formatów raportów, które umożliwiają szybką analizę zebranych danych. Wyniki można zapisywać jako:
- obrazy (bitmapy)
- pliki .csv i .xls
- video (do 8 minut nagrania).
Dane można przesyłać za pomocą kabla USB, karty microSD i analizować na komputerze w oprogramowaniu Olympus GageView™ Pro.
Wytrzymały I Praktyczny
Obudowa defektoskopu EPOCH 650 na krawędziach jest zabezpieczona gumową obudową, dzięki czemu jest odporna na upadki i uderzenia. Gniazda USB i karty microSD są uszczelnione.
Lekki, wyposażony w uchwyty do zawieszania i podporę zapewnia wygodę pracy.
Funkcje
Standardowe funkcje oprogramowania:
- dynamiczne krzywe DAC/TCG
- DGS/AVG/OWR
- AWS D1.1 i D1.5
Opcjonalne funkcje oprogramowania:
- Bramka Interferencyjna
- Moduł pomiarów grubości
- Pamięć szablonu
- Tłumienia Echa Dna (BEA)
- API 5UE
- Uśrednianie A-skan
Dane Techniczne
Tryby badań | Met. Echa, Podwójny, Przepuszczania |
Zakres obserwacji | 3.36 mm do 13388 mm dla 5,900 m/s |
Prędkość fali | 635 m/s do 15240 m/s |
Zero offset (dobieg) | 0 do 750 µs |
Przesunięcie podstawy czasu | 59mm do 13401mm dla fali podłużnej w stali |
Przechowywanie danych | 100 000 ID wewnątrz, wymienna karta 2 GB microSD (standard) |
Czas pracy na baterii | 15 h do 16 h (litowo-jonowa) |
Wymagania zasilania sieciowego | AC: 100 VAC do 120 VAC, 200 V |
Gniazda głowic | BNC lub LEMO 1 |
Wymiary całkowite | |
(Szer. x Wys. x Głębokość) | 236 mm x 167 mm x 70 mm |
Waga | 1.6 kg, (łącznie z baterią) |
Wyposażenie
- Defektoskop cyfrowy EPOCH 650
- konfiguracja z pokrętłem (klasa IP66)
- konfiguracja z padem nawigacyjnym (klasa IP67)
- Ładowarka sieciowa (100 VAC, 115 VAC, 230 VAC, 50 Hz lub 60 Hz)
- Bateria litowo-jonowa
- Kabel USB
- Szybka karta referencyjna
- Walizka transportowa
- Pełna instrukcja obsługi (CD)
Oferujemy szeroki wybór głowic Olympus NDT serii Atlas.