Cyfrowy defektoskop ultradźwiękowy EPOCH 650

Cyfrowy defektoskop ultradźwiękowy EPOCH 650
  • Kategoria Aparatura do badań metodą ultradźwiękową

Przenośny cyfrowy defektoskop ultradźwiękowy stworzony do pracy w każdych warunkach. Duży ekran, intuicyjny interfejs, wiele wbudowanych funkcji i ustawień. System raportowania, zapisu i eksportu wyników z bazą danych.

  • Dla początkujących i zaawansowanych użytkowników
  • Do badań metali, kompozytów i polimerów, diagnostyki korozji, badania spoin
  • Zgodny z PN-EN12668-1
  • A-Skan w trybie pełnoekranowym

 

Najważniejsze cechy EPOCH 650

Duży wyświetlacz

Duży ekran o rozdzielczości VGA (640x480) gwarantuje wysokiej jakości obraz. Technologia „transflective” umożliwią prowadzenie analizy w pomieszczeniach, dzięki podświetleniu i na zewnątrz przez dostosowanie ekranu do działania w pełnym słońcu.

 

Intuicyjny interfejs

Interfejs w wielu językach (menu po polsku), dostosowany do różnych poziomów zaawansowania. Dzięki przyciskom łatwo i szybko zmienisz wszystkie najważniejsze ustawienia i parametry. Za pomocą przycisków bezpośredniego dostępu dostosujesz lub włączysz:

  • wzmocnienie,
  • położenie bramek,
  • zamrożenie ekranu,
  • zapis wyników.

 

Raporty i zapis danych

Baza danych umożliwia zapisywanie ustawień analizy, przechowywanie wyników i wykorzystywanie zapisywanych danych do porównania.

System posiada też wiele wbudowanych formatów raportów, które umożliwiają szybką analizę zebranych danych. Wyniki można zapisywać jako:

  • obrazy (bitmapy)
  • pliki .csv i .xls
  • video (do 8 minut nagrania).

Dane można przesyłać za pomocą kabla USB, karty microSD i analizować na komputerze w oprogramowaniu Olympus GageView™ Pro.

 

Wytrzymały i praktyczny

Obudowa defektoskopu EPOCH 650 na krawędziach jest zabezpieczona gumową obudową, dzięki czemu jest odporna na upadki i uderzenia. Gniazda USB i karty microSD są uszczelnione.

Lekki, wyposażony w uchwyty do zawieszania i podporę zapewnia wygodę pracy.

 

Funkcje

Standardowe funkcje oprogramowania:

  • dynamiczne krzywe DAC/TCG
  • DGS/AVG/OWR
  • AWS D1.1 i D1.5

Opcjonalne funkcje oprogramowania:

  • Bramka Interferencyjna
  • Moduł pomiarów grubości
  • Pamięć szablonu
  • Tłumienia Echa Dna (BEA)
  • API 5UE
  • Uśrednianie A-skan

 

Dane techniczne

Tryby badań

Met. Echa, Podwójny, Przepuszczania

Zakres obserwacji

3.36 mm do 13388 mm dla 5,900 m/s

Prędkość fali

635 m/s do 15240 m/s

Zero offset (dobieg)

0 do 750 µs

Przesunięcie podstawy czasu

-59mm do 13401mm dla fali podłużnej w stali

Przechowywanie danych

100 000 ID wewnątrz, wymienna karta 2 GB microSD (standard)

Czas pracy na baterii

15 h do 16 h (litowo-jonowa)

Wymagania zasilania sieciowego

AC: 100 VAC do 120 VAC, 200 V

Gniazda głowic

BNC lub LEMO 1

Wymiary całkowite

(Szer. x Wys. x Głębokość)

 

236 mm x 167 mm x 70 mm

Waga

1.6 kg, (łącznie z baterią)

 

Wyposażenie

  • Defektoskop cyfrowy EPOCH 650
    • konfiguracja z pokrętłem (klasa IP66)
    • konfiguracja z padem nawigacyjnym (klasa IP67)
  • Ładowarka sieciowa (100 VAC, 115 VAC, 230 VAC, 50 Hz lub 60 Hz)
  • Bateria litowo-jonowa
  • Kabel USB
  • Szybka karta referencyjna
  • Walizka transportowa
  • Pełna instrukcja obsługi (CD)

Oferujemy szeroki wybór głowic Olympus NDT serii Atlas.

Pobierz epoch650.pdf